National Instruments ha presentado hoy el analizador vectorial de redes (VNA) de 6 GHz y dos puertos
NI PXIe-5630, el primer VNA del mercado para
pruebas automáticas que está disponible en un formato compacto PXI. Gracias al soporte completo para el análisis vectorial de los parámetros de transmisión y reflexión (T/R), la calibración automática de precisión y la
arquitectura flexible definida por software, el nuevo VNA es ideal para las pruebas automáticas de validación de diseños y producción. Su arquitectura modular PXI y su pequeño tamaño para dos slots hacen posible que los ingenieros de prueba puedan incorporar el análisis vectorial de redes en sus sistemas de test sin el coste añadido y el gran tamaño de los VNAs de sobremesa tradicionales.
"El VNA de 6 GHz demuestra nuestra continua inversión para proporcionar soluciones de radiofrecuencia que ayuden a los ingenieros e incrementen la precisión de las pruebas al mismo tiempo que se reducen los costes de instalación, el tamaño y la complejidad", dijo Phil Hester, vicepresidente senior de investigación y desarrollo de National Instruments. "Estamos orgullosos de añadir este VNA a nuestra ya potente y creciente familia de productos de RF basada en instrumentos modulares PXI."
El NI PXIe-5630 está optimizado para test automáticos con un conjunto desarrollado de funciones que incluyen la calibración automática de precisión, el análisis vectorial completo en ambos puertos, extensiones del plano de referencia y una API flexible de
LabVIEW que es ideal para realizar pruebas en paralelo. El VNA ofrece también especificaciones de alto rendimiento incluyendo una gama de frecuencias de 10 MHz a 6 GHz, un amplio rango dinámico de más de 110 dB y velocidades de barrido de menos de 400 microsegundos/punto para 3.201 puntos. Además, debido a su configuración PXI, los ingenieros pueden combinar hasta ocho módulos NI PXIe-5630 en un solo chasis PXI y realizar varias pruebas de
pruebas de RF realmente en paralelo.
Los ingenieros pueden controlar el NI PXIe-5630 de forma interactiva mediante su completo panel frontal o mediante su programación utilizando los APIs para los entornos de desarrollo de NI LabVIEW y NI
LabWindows™/CVI ANSI C. Ambas APIs están optimizadas para el procesamiento mediante múltiples núcleos con el fin de facilitar la prueba en paralelo de múltiples componentes de RF, lo cual proporciona una ventaja significativa sobre el rendimiento de los test secuenciales y conmutados.
El NI PXIe-5630 amplía aún más la ya amplia selección de instrumentos modulares PXI dedicados a test automáticos. Como un beneficio adicional de la configuración PXI estándar en el mercado, el VNA se integra con más de 1.500 instrumentos PXI de NI y más de 70 de otros proveedores para satisfacer los requisitos de casi cualquier aplicación de test.
El VNA estará disponible en octubre de 2010.
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